半导体老化筛选设备

半导体老化筛选设备

参考价: 面议

具体成交价以合同协议为准
2019-12-24 14:09:44
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广东宏展科技有限公司

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产品简介

不仅做动态老化，还具备DUT（受测器件：Device Under Test）的输出信号监视功能。用这个功能对DUT的动作进行监视，防止筛选漏网，主要试验对象为SDRAM，SRAM等内存类。

详细介绍

不仅做动态老化，还具备DUT（受测器件：Device Under Test）的输出信号监视功能。用这个功能对DUT的动作进行监视，防止筛选漏网，主要试验对象为SDRAM，SRAM等内存类，CPU，ASIC，系统LSI等逻辑装置，也对应各种MOS形的IC。

更多详细信息请浏览以下：

www.051217.com

 

 
 

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