MAXXI和X-Strata 系列微焦斑XRF光谱仪

基于X-荧光的涂层厚度和材料分析是业内大多接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U 的固体或液体样品 参考价面议

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