ZEISS O-INSPECT 543
O-INSPECT543O-INSPECT复合式测量机集光学式与接触式测量技术于一身，因此可用于众多部件的测量和分析。无需增加专用设备，O-INSPECT一机即可胜任。
配置. Discovery远心变焦镜头. 自适应照明系统. VAST XXT扫描探头. 测针架. 标准球选项. 白光距离传感器. 转台. 含支架、玻璃托盘和网络托盘的上料系统
选项
CALYPSO
O-INSPECT复合式测量机集光学式与接触式测量技术于一身，因此可用于众多部件的测量和分析。无需增加专用设备，O-INSPECT一机即可胜任。
