产品说明、技术参数及配置 EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。 该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，
利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行准确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，
大大提高了检测效率和工作效率的作用。
另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。 性能特点 超薄窗X光管 数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，准度更高，在合金检测中效果更好 FAST-SDD探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比 低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好 智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围 自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性 高信噪比的电子线路单元 针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐 解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析度 多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增大效应得到明显的抑制 内置高清晰摄像头 液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然 标准配置 超薄窗X光管 FAST-SDD探测器 数字多道技术 光路增强系统 高信噪比电子线路单元 内置高清晰摄像头 自动切换型准直器和滤光片 自动稳谱装置 三重安全保护模式 可靠的整体钢架结构 90mm×70mm的状态显示液晶屏 真空泵
