综合性轮廓和表面测量站-上海曼戈斐光学技术有限公司手机版

详细介绍

产地类别	进口

Mahr用MARSURF UD 130 综合性轮廓和表面测量站替换了成功的MarSurf UD 120，并封闭了解决方案MarSurf LD 130/LD 260与具有两个驱动单元的标准组合测量站MarSurf XCR 20之间的间隙。

MarSurf UD 130的技术规范远远优于MarSurf UD 120：特别是测量和定位速度减少了每个工件的测量时间。

测量速度（文本）	0.1 mm/s to 5 mm/s; for roughness measurements 0.1 mm/s to 0.5 mm/s are recommended
扫描长度末尾（X 方向）	130 mm
分辨率	2 nm
扫描长度开始（X 方向）	0.1 mm
定位速度（文本）	0.1 mm/s to 30 mm/s
输入	Standard probe LP-D 14-10-2/60°
测量范围 mm	10 mm (100 mm probe arm) 20 mm (200 mm probe arm)
轮廓分辨率	2 nm
扫描长度（文本）	0.1 mm to 130 mm
测量力 (N)	1 mN to 30 mN, software-adjustable