混叠测试图走样畸变测试卡

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2022-12-06 10:34:50
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深圳市赛麦吉图像技术有限公司

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产品简介

TE173专门用于测量走样。混叠效应是两个位图的波纹扭曲造成的干扰。

详细介绍

TE173专门用于测量走样。混叠效应是两个位图的波纹扭曲造成的干扰。独立于类型的相机混叠效应会产生干扰的动机如位图和电视行结构。的百叶帘效果或纺织品条纹图案。

 

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