SGH-2 等厚干涉综合实验
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- 仪器介绍
近平行光入射到厚度变化均匀、折射率均匀的薄膜/空气间隙等物质上，其上下表面的反射光干涉而形成的干涉条纹。薄膜/空气间隙厚度相同的地方形成同条干涉条纹，故称等厚干涉。本实验除了研究典型的牛顿环和楔形平板干涉以外，还研究了一些牛顿环装置的变种，如正交柱面镜等形成的椭圆，双曲等干涉条纹现象。
- 可开设实验
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