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徕卡真空冷冻传输系统 Leica EM VCT500
面议徕卡冷冻光镜电镜联用 Leica EM Cryo CLEM
面议徕卡高压冷冻仪 Leica EM ICE
面议徕卡自动载网投入冷冻仪 Leica EM GP
面议徕卡冷冻替代仪 Leica EM AFS2
面议徕卡多功能修块机 Leica EM RAPID
面议徕卡修块机 Leica EM TRIM2
面议徕卡超薄切片自动染色机 Leica EM AC20
面议徕卡自动组织处理机 Leica EM TP
面议徕卡全自动微波组织处理机 Leica EM AMW
面议徕卡自动临界点干燥仪 Leica EM CPD300
面议徕卡高真空镀膜仪 Leica EM ACE600
面议仪器简介:
IG-1000是单纳米粒径测定装置,用于测定纳米粒子,获得了2009Pittcon大奖。与以往粒度测定仪器原理不同,IG方法(Induced Grating method)是岛津公司开发的无二的纳米粒径测定技术。IG-1000采用介电电泳原理,介电电泳ON时,形成部分的高(低)粒子浓度;介电电泳OFF时, 粒子扩散恢复为原始状态;由介电电泳力使粒子构成衍射光栅,扩散后的浓度降低导致衍射光强度降低,从衍射光强度的时间变化可以得到粒子的扩散系数,进而得到粒子的粒径。