（售价仅供参考）

HAST高加速寿命偏压老化试验箱

试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。

HAST高加速寿命偏压老化试验箱

主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性，是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度，湿度，压力，的各种条件来完成，这些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者产品内部。

HAST高加速寿命偏压老化试验箱

HAST Burn-in Chamber 又称为超加速寿命试验机,是用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题的试验设备

其目的是提高环境应力与工作应力、加快试验过程缩短产品或系统的寿命试验时间。

Burn-in Chamber 用于 PCB、LCD Board、电池、电容、电阻、IC 半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件及其它电子零件之高温、高湿、高压等信赖性试验等行业。

HAST高加速寿命偏压老化试验箱

HAST高温高压加速老化试验机 产品特点

1.HAST高压加速老化试验机Burn-in Chamber采用较新优化设计,美观大方，做工精细

2.具备特制的试样架免去繁杂的接线作业

3.大容量水箱,试验时间长,全自动补水，试验不中断

4.与试样数量相吻合的试样信号施加端了

5.采用触摸屏，具有USB曲线数据下载功能

6.采用高效真空泵，使箱内达到较佳纯净饱和蒸汽状态

7.一体成型硅胶门垫圈，气密度良好，且使用寿命长

8.多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示。

9.可根据客户不同需求定制专用HAST试验设备Burn-in Chamber（如: HAST内箱尺寸及偏压可满足客户不同的测试需要）

聚焦超低温，低温，环境模拟，可靠性辅助测试解决方案

超过15年行业技术沉淀，掌握核心技术  

多项技术，细分领域独角兽

持续的创新产品和服务，为客户提供更加满意的体验

速度：1小时内响应，24小时内提供实施方案。

专业：多名工程师与热流仪等相伴10多年。

维修：原厂标准服务。

料件：原厂品牌料件。

保障：提供交换式维修。

信息：设备档案更新与备份，做客户设备的管家。