（售价仅供参考）

HAST高加速寿命试验箱

试验箱适用于IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。

HAST高加速寿命试验箱

主要用于评估在湿度环境下产品或者材料的可靠性，是通过在高度受控的压力容器内设定和创建温度，湿度，压力，的各种条件来完成，这些条件加速了水分穿透外部保护性塑料包装并将这些应力条件施加到材料本体或者产品内部。

聚焦超低温，低温，环境模拟，可靠性辅助测试解决方案

超过15年行业技术沉淀，掌握核心技术  

多项技术，细分领域独角兽

持续的创新产品和服务，为客户提供更加满意的体验

速度：1小时内响应，24小时内提供实施方案。

专业：多名工程师与热流仪Temperature Cycling System相伴10多年。

维修：原厂标准服务。

料件：原厂品牌料件。

保障：提供交换式维修。

信息：设备档案更新与备份，做客户设备的管家。