集成电路IC芯片温度冲击测试机 热流罩

ThermoTest TS-780高低温冲击气流仪的性能达到了更高的标准。TS-780以速度、精度和可靠性作为基本设计标准，提供了非常*的温度测试能力。温度转换从-55℃到+125℃之间转换Z快仅需10秒，并有更广泛的温度范围-80℃到+225℃; 经长期的多工况验证，满足更多生产环境和工程环境的要求。TS-780是纯机械制冷，无需液氮或任何其他消耗性制冷剂。

集成电路IC芯片温度冲击测试机 热流罩

ThermoTest TS-780高低温冲击气流仪应用

特性分析、高低温温变测试、温度冲击测试、失效分析等可靠性试验，如：芯片、微电子器件、集成电路（SOC、FPGA、PLD、MCU、ADC/DAC、DSP等）闪存Flash、UFS、eMMC  PCBs、MCMs、MEMS、IGBT、传感器、小型模块组件光通讯（如：收发器 Transceiver 高低温测试、SFP 光模块高低温测试等）其它电子行业、航空航天新材料

特点

温度变化速率快，-55℃至+125℃之间转换Z快仅需10秒

广泛的温度范围，-80℃至+225℃

结构紧凑，移动式设计

触摸屏操作，人机交互界面

快速DUT温度稳定时间

温控精度±1℃，显示精度±0.1℃

气流量可高达18SCFM

除霜Z利设计，快速清除内部的水汽积聚

测试标准

满足美GJ用标准MIL体系测试标准

满足国内J用元件GJB体系测试标准

满足JEDEC测试要求

聚焦超低温，低温，环境模拟，可靠性辅助测试解决方案

超过15年行业技术沉淀，掌握核心技术  

多项技术，细分领域独角兽

持续的创新产品和服务，为客户提供更加满意的体验

（显示价格供参考，实际价格以报价为准）