DKG-ONE CF4 气态分子污染物四氟化碳CF4泄漏分析仪
产品简介
详细信息
GASERA ONE CF4分析仪是基于超灵敏悬臂梁增强光声光谱探测技术，结合量子级联激光（QCL）光源，工作于CF4的中红外基本光谱吸收峰。这两者的结合提供了足够的灵敏度以无时延的探测微小浓度的CF4喷溅或者溢出，同时保证了超高水平的稳定性。重新校准的周期长达几个月甚至几年，大大减低了总体持有成本。
通用
- 19”3U外壳，适用于台式或者机架固定安装
- 尺寸：48.4 cm W -x 13.9 cm H x 44 cm D (19.1 in W- x 5.5 in H x 17.3 in D)
- 重量：约13 Kg
- 内置计算机，带7”宽屏显示器
- 数据存储：在短采样间隔连续监测的情况下，足够存储一年
- 内部总气路体积：30ml
- 电源
输入电压：90-264 VAC，47-63 Hz
输入功率：大75W
- 接口：以太接口，USB，可选RS485，RS232，电流输出，电压输出，MODBUS和AK协议
- GASERA ONE GHG可以通过智能通讯工具，平板，电脑或者另一台GASERA ONE（即将推出)远程控制
技术原理
- 工作原理：红外光声光谱
- 超灵敏专业光学麦克风，基于微电机悬臂梁传感器，结合激光干涉仪测量悬臂梁的微观运动
- 光源配置：分布式反馈量子级联激光
- 样品池温度稳定于50℃
标准
- 符合低电压指令2014/35 / EU，EMC指令2004/108 / EC和ROHS 2指令2011/65 / EU
检测需求
- 洁净室需要控制污染物水平。准确、可靠和低维护成本的洁净室空气分子污染物AMC控制可以显著的提升产能。
优势
- 准确、可靠和低维护成本的洁净室污染控制
- 快速的响应时间，以捕捉急速上升的浓度
- 独立运行系统，内置气体交换泵
- 无耗材或者化学试剂
- 短光程，单点校准也可达到业内较好的动态量程
- 直接吸收测量，无漂移
- 校准间隔长（可达数年）
- 高选择性，不受乙醛和其他VOC的干扰
特点
- 高选择性的监测痕量水平的CF4
- 检测下限(LoD)低于0.1 ppb
- 响应时间可设置，从10秒到几分钟
- 动态范围宽，运行稳定
- 无耗材
- 低样品量（几ml）
- 内置气体交换系统
- 重新校准间隔长（几个月）
- 直观的用户界面
- 内置显示屏，可数字式或者图线式显示结果
- 可通过局域网远程操作
- 运行条件
温度范围：0℃…+49℃
湿度：无凝露
压力范围：750mbar-1050 mbar
防尘/水等级：IP20 (IEC 529)
- 储存条件
温度范围：-20 ℃ ~+60 ℃
- 样品气体条件
温度范围：0 ~ +49 °C
湿度：无凝露，温度达35°C时大相对湿度80%，温度达49°C时线性下降至35%
压力：750 mbar…1050 mbar
气流：约1L/min
可靠的监测
- 高灵敏度的GASERA ONE CF4可以在生产环境中快速的探测污染物。另外，直接吸收式的检测因其零背景的性质，可保证*高稳定性。GASERA ONE CF4可与其他检测仪器，如颗粒物监测仪等，整合在一个机柜里。
测量参数
- 响应时间：取决于用户可定义通道积分时间CIT以及气体冲洗设定。根据平均时间和采样设定从大约15秒到几分钟不等
- 监测下限：N2O 2 ppb，CH4 10 ppb
- 动态量程：5个数量级（检测下限的100,000倍)
- 重复性：运行条件下，校准浓度重复性小于1%
- 准确度：校准浓度下好于5%，受限于校准气体准确度
- 温度稳定性：在运行温度范围内的环境温度变化不会导致漂移
- 压力稳定性：压力范围内的样品压力变化不会导致漂移