ZJD-C 薄膜材料介电常数测试仪
产品简介
薄膜材料介电常数测试仪
GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的*方法；
GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；
GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法
详细信息
机台型号：ZJD-B/ZJD-A/ZJD-C 产品名称：薄膜材料介电常数测试仪
一、符合标准：
ASTM 150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；
GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的*方法；
GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；
GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法；
二、主机及夹具参数：
项目/型号 | ZJD-B | ZJD-A | ZJD-C |
信号源 | DDS数字合成信号 | ||
频率范围 | 10KHZ-70MHZ | 10KHZ-110MHZ | 100KHZ-160MHZ |
信号源频率精度 | 3×10-5 ±1个字,6位有效数 | ||
Q值测量范围 | 1～1000 | ||
Q值量程分档 | 30、100、300、1000、自动换档或手动换档 | ||
电感测量范围 | 1nH～8.4H | 1nH～140mH | |
电容直接测量范围 | 1pF～2.5uF | 1pF～25nF | |
主电容调节范围 | 30～540pF | 17～240pF | |
准确度 | 150pF以下±1pF；150pF以上±1% | ||
合格指示预置功能范围 | 5～1000 | ||
环境温度 | 0℃～+40℃ | ||
消耗功率 | 约25W | ||
电源 | 220V±22V，50Hz±2.5Hz | ||
极片尺寸 | 38mm/50mm(二选一) | ||
极片间距可调范围 | ≥15mm | ||
夹具插头间距 | 25mm±0.01mm | ||
夹具损耗正切值 | ≤4×10－4 （1MHz） | ||
测微杆分辨率 | 0.001mm | ||
测试极片 | 材料测量直径Φ38mm/50mm，厚度可调 ≥ 15mm | ||
三、配置：
序号 | 标准配置 | 单位/数量 |
1 | 主机 | 一台 |
2 | S916夹具 | 一套 |
3 | 电感组 | 九只 |
4 | 电源线 | 一根 |
选配：USB模块、液体杯（测量极片直径 Φ38mm； 液体杯内径Φ48mm 、深7mm） | ||
相关仪器：
ZJD-C型薄膜材料介电常数测试仪
QS37介电常数介质损耗测试仪